恩智NGI N8100系列超級電容全參數測試儀

支持超級電容全參數測試

N8100A多通道充放電測試儀，提供超級電容全參數測試多種測試方法，用戶可根據需要靈活選擇。N8100A上位機軟件支持平臺化測試應用，用戶可根據測試工藝和測試流程自行定制測試文件，測試結果可方便存儲和導出。導出格式可支持數據庫、EXCEL、JPG文件。適用于超級電容器研發(fā)、生產與品質檢測。

產品特點

 ■  恒流充電、恒流放電、恒壓充電、恒壓放電、循環(huán)壽命、充電容量，放電容量、DCIR、漏電流，自放電等全參數測試

       ■  電流范圍：0-1A/10A，電壓范圍：0-6V

       ■  3U機框可容納30通道，超高空間利用率

       ■  采樣&通訊間隔可設，最小可低于10ms，測量結果更準確

       ■  每通道對應狀態(tài)指示燈，分選更方便

       ■  強大的數據存儲與分析功能

       ■  百兆以太網通訊

功能與優(yōu)勢

容量測量

       N8100可測量超級電容容量參數，含充電容量和放電容量。 測試方法為：對被測超級電容以恒定電流進行充（放）電， 在充（放）電過程中記錄時間和電壓參數，通過計算充（放） 電過程中電壓對時間的斜率計算容量。用戶可根據IEC等各 種測量標準自行選擇電壓、時間參數進行計算。

直流內阻(DCIR)測試  

      N8100可通過重復充放電循環(huán)測試，測量超級電容在充放電 過程中表征壽命特征的各項物理參數并提取其衰減曲線。通 過分析參數衰減曲線，用戶可獲取超級電容在不同應用環(huán)境 下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽 命測試結果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。

壽命測試

      N8100可通過重復充放電循環(huán)測試，測量超級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數并提取其衰減曲線。通過分析參數衰減曲線，用戶可獲取超級電容在不同應用環(huán)境下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。

四線制測量功能

      超級電容測試過程中需要輸出較大電流，測試線將會引入較大電壓降（線損），影響測量精度。N8100全系列型號均采用四線制接線方式，直接采集超級電容兩端電壓而避免因測試線線損帶來的電壓誤差，從而確保測量精度。

測試夾(治)具

      考慮到不同規(guī)模的測試應用場景，NGI提供兩種測試夾（治）具供用戶選擇：開爾文夾、12通道專用治具。兩種測試夾（治）具均為四線制接法。

測試軟件

(1) N8100測試軟件采用平臺化設計，用戶可根據工藝需求自行定制測試流程。

(2) 類Office界面風格，各通道獨立顯示，支持電壓電流波形繪制，可以表格形式顯示結果等諸多元素，使得這款專業(yè)軟件在具備強大測試功能同時，兼具美觀易用優(yōu)點。

(3) 設計有功率限制電路，反應時間極短，可有效保護負載不會因為過功率而損壞。

(4) 采用全屏蔽技術，對惡劣測試環(huán)境具有廣泛適應性，有效提高了負載抗干擾能力。

應用領域

產品尺寸

恩智NGI N8100系列超級電容全參數測試儀